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光学干涉测厚仪

品牌:精质视觉

简介:利用光学干涉法,发射一束白光至薄膜表面,通过检测反射光的干涉条纹,即可测量出薄膜的厚度。






一、典型应用:

测量光学镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚等厚度、LED镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其它需要测量的镀膜涂层厚度的场合

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二、测量原理:

采用光学干涉法,测量薄膜材料的厚度。

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三、设备种类:

设备种类.png

四、非接触式测量

非接触式测量.png

五、高精度位移传感器

采用美国高精度光谱仪,分辨率达0.01nm0.01%; 量程达±3mm大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。

六、技术参数

测量范围:1nm-3000um

测量层数:50层

理论精度:<0.01nmor0.01%

稳定精度:<0.02nmor0.03%

准确度:1nm或0.02%

光斑直径:标准3mm,可小至少3um

测量最大宽度:Max:200mm(根据实际产线定制)

X轴最大移动速度:Max:1.6m/s

单向扫描时间:21.6秒测36个点(标准)

通讯协议:TCP/OCP协议,可以与其它设备通讯

七、强大的数据库

强大的软件材料库,包含1000多种材料的光学常数;

强大的数据库.png

 

、功能强大的控制软件      

1、丰富的图表信息(实时分区扫描图,横向均值趋势图,纵向均值趋势图,整卷厚度3D图)
2、可保存多达1000个品种参数
3、数据库和CSV双份数据存储和备份

4、CPK、min、max统计功能

5、EWMA高级SPC控制图

6、与Minitab无缝链接

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八、案例应用

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